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Xstress DR45 X射線應(yīng)力測定儀檢測航空航天金屬材料殘余應(yīng)力的流程及技術(shù)要點如下：

一、檢測原理

基于布拉格方程（2dsinθ=nλ），通過X射線照射金屬表面，測量晶格應(yīng)變引起的衍射峰位移，計算殘余應(yīng)力。其核心公式為應(yīng)力常數(shù)法：??=??/1+??⋅Δ??/??⋅1/sin2??

其中，E為彈性模量，ν為泊松比，ψ為入射角‌。

二、檢測流程

試樣準備‌

材料要求‌：晶粒尺寸10–100μm，無強織構(gòu)（最大/最小衍射峰強度比＜3）‌。
表面處理‌：拋光至Ra≤0.8μm，避免涂層干擾基體衍射峰‌。
儀器校準‌：使用無應(yīng)力鐵粉驗證精度（≤±6.9MPa）‌。

參數(shù)設(shè)置‌

X射線源‌：Cr-Kα靶（波長0.2294nm），功率35kV/30mA‌。
掃描范圍‌：2θ=120°–140°（針對鈦合金TC4的{211}晶面）‌。
ψ角范圍‌：0°–60°（sin²ψ法），步長15°‌。

數(shù)據(jù)采集‌

定位方式‌：雙激光+攝像頭三角定位（誤差＜±5μm）‌。
掃描模式‌：同傾法（Ω掃描）或側(cè)傾法（ψ掃描），推薦組合使用‌。

應(yīng)力計算‌

軟件分析‌：采用ASTM E915-21標準算法，剔除異常值后擬合應(yīng)力梯度‌。

三、航空航天應(yīng)用案例
鈦合金TC4‌：檢測焊接接頭應(yīng)力分布，控制殘余應(yīng)力＜0.3σy（屈服強度）‌。
高溫合金渦輪盤‌：結(jié)合振動時效工藝，降低應(yīng)力集中風(fēng)險‌。
四、優(yōu)勢與局限
優(yōu)勢‌：
非破壞性，重復(fù)精度高（＜±10MPa）‌；
符合GB/T 7704-2017、EN 15305等航空標準‌。
局限‌：
僅限表面檢測（穿透深度＜20μm）‌；
強曲率部件需專用夾具

如需進一步了解具體參數(shù)或操作視頻，可參考設(shè)備手冊或廠商培訓(xùn)資料。